接触抵抗の実測×CAE相関|4端子ナノボルト測定で解析を裏付け|コネクタCAE

コネクタの要である接触抵抗を、自社の4端子・ナノボルト測定で高精度に実測し、CAE解析と突き合わせて“実と合う”モデルに合わせ込みます。接触信頼性の不具合解析に欠かせない一歩です。

なぜ接触抵抗の実測が効くのか

接触抵抗は面圧・接触面積・酸化皮膜・微摺動で大きく変わり、カタログ値のままの解析は実測と合いません。実測で接触条件を押さえることで、通電発熱や接触不良の解析精度が一段上がります。

この取り組みでできること

  • 接触抵抗(集中抵抗・皮膜抵抗)の分解と解析への反映
  • 面圧・接触面積と接触抵抗の関係の検証
  • 通電発熱解析の接触条件の根拠づけ
  • 微摺動・酸化による抵抗上昇の経時評価

事例:発熱解析の接触条件が決まらない〔代表例〕

課題:通電発熱解析の温度が実測と合わず、接触部の条件設定の根拠が不足していた。

取り組み:4端子・ナノボルト測定で接触抵抗を高精度に実測し、面圧条件と対応づけて解析に反映した。

結果:解析温度が実測に近づき、設計判断に使えるモデルになった。

専任者としてのフィードバック:接触抵抗は環境・経時で変わるため、継続的な実測と較正を前提に、次回以降の設計者CAEの予測精度も高められるよう助言した。

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