公開日: 2026年6月24日 / 最終更新日: 2026年6月24日
概要
マイクロスコープ・SEM（走査型電子顕微鏡）などを使用して、コネクタ・端子・圧着部などの外観や断面を高倍率で詳細に観察・撮影します。目視では確認できない微細な構造、キズ、異物、メッキ状態などを可視化します。
使用機器・対応範囲
- デジタルマイクロスコープ：外観・表面観察、寸法測定（10〜1000倍程度）
- 金属顕微鏡：断面研磨後の内部構造観察（50〜2000倍程度）
- SEM（走査型電子顕微鏡）：超高倍率観察・EDX元素分析
観察項目の例
- 圧着端子のバレル圧着状態（ワイヤーの充填率・変形）
- メッキ膜厚・密着状態・剥離の有無
- ボイド（気泡）・クラック・異物の検出
- コネクタ嵌合面の接触状態
- はんだ付け部の接合状態
目的
- 品質確認：製品が設計通りに製造されているかを定量的に確認します。
- 不良原因解析：発生した不良の起点や原因を特定し、再発防止に役立てます。
- 工程改善のデータ取得：製造条件の違いによる断面状態の変化を比較・記録します。
ご依頼から試験実施までの流れ
- お問い合わせ・ヒアリング
観察目的・観察箇所・倍率・報告書フォーマットなどをご確認します。 - お見積り・計画提案
必要な前処理（樹脂包埋・断面研磨）を含めた最適な観察プランをご提示します。 - 観察・撮影実施
指定箇所を所定の倍率で観察・撮影し、測定値とともに記録します。 - レポート納品
観察画像・測定データ等、試験報告書を納品いたします。
料金体系
基本料金：要お見積り（観察箇所・倍率・前処理の有無により異なります）
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よくある質問（FAQ）
Q. この試験の費用はいくらですか？
費用はサンプルの種類・数量・試験条件によって異なります。詳細はお問い合わせフォームまたはお電話にてお気軽にご相談ください。
Q. 試験の所要時間はどのくらいですか？
試験内容やサンプルの状態によって異なります。お見積り時に目安の納期をご案内いたします。
Q. どのような規格に対応していますか？
JIS規格をはじめ、IEC・MIL等の各種規格に対応しています。ご依頼時に対応規格をお知らせください。
Q. 試験結果はどのような形式で受け取れますか？
試験成績書（レポート）として発行いたします。必要に応じてPDFまたは紙での納品が可能です。
Q. 依頼方法を教えてください。
当サイトのお問い合わせフォームまたはお電話（平日9:00〜17:00）にてご相談ください。サンプル送付先や詳細な試験条件についてご案内いたします。
株式会社フォスターについて
株式会社フォスターは、20年以上にわたりコネクタ評価・環境試験・信頼性評価に携わり、自動車・電子部品分野を中心とした受託試験を行っています。本ページは、20年以上にわたる受託試験の実績と技術的知見をもとに作成しています。