概要
HAST試験（Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）は、高温・高湿・加圧環境で電子部品・コネクタの加速信頼性を評価する試験です。通常のPCTより低温での加速試験が可能で、バイアス印加（BHAST）にも対応します。
半導体パッケージやコネクタ内部の吸湿・腐食は、実使用環境下では数年かけて進行する劣化ですが、HAST試験では高温高湿かつ加圧という過酷な条件を組み合わせることで、この劣化プロセスを短期間で再現します。特に自動車用コネクタでは、水分侵入による絶縁抵抗低下や端子腐食が接触不良の主要因となるため、開発段階でのHAST試験によるスクリーニングが品質保証上重要な役割を果たします。
HAST試験の試験内容
- HAST条件（例：130℃・85%RH・加圧）での曝露試験
- バイアスHAST（BHAST）：通電状態での加速試験
- 曝露後の電気特性（絶縁抵抗・接触抵抗・動作確認）測定
- 外観観察（腐食・変色・デラミネーション）
- JEDEC JESD22-A110・IPC-TM-650等の規格対応
HAST試験の代表的な試験条件
- 標準条件：130℃・85%RH（飽和型、非飽和型に応じて選定）
- BHAST（バイアスHAST）：通電状態で電気化学的マイグレーションを促進
- 曝露時間：96時間・168時間・264時間など段階的に設定可能
- 試験前後での外観・電気特性の比較評価
目的
- ICパッケージ・電子部品の加速湿熱信頼性評価
- バイアス印加状態での電気化学的腐食リスク評価
- 短期間での長期信頼性予測（加速係数の活用）
- 開発・認証段階での迅速な信頼性スクリーニング
HAST試験の対象となる製品・部材
- ICパッケージ・半導体デバイス
- コネクタ・端子（自動車用・産業用）
- プリント基板（PCB）実装品
- センサーモジュール・電子制御ユニット（ECU）
- 樹脂封止部品・接着接合部
ご依頼から試験実施までの流れ
- お問い合わせ・ヒアリング
試験品仕様・試験条件・判定基準をご確認します。 - お見積り・試験計画提案
最適な試験方法と費用をご提示します。 - 試験実施
15年以上の実績を持つ専門スタッフが正確に実施します。 - レポート納品
測定データ・グラフ・写真を含む試験報告書を納品します。
料金体系
試験条件・時間・サンプル数によって異なります。詳細はお問い合わせください。
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よくある質問（FAQ）
Q. この試験の費用はいくらですか？
HAST試験の費用は、試験条件（温度・湿度・バイアス有無）やサンプル数、曝露時間によって異なります。詳細はお問い合わせフォームまたはお電話にてお気軽にご相談ください。
Q. 試験の所要時間はどのくらいですか？
曝露時間（96〜264時間程度）に加え、前後の電気特性測定・外観観察の時間が必要です。お見積り時に目安の納期をご案内いたします。
Q. どのような規格に対応していますか？
JIS規格をはじめ、IEC・MIL等の各種規格に対応しています。ご依頼時に対応規格をお知らせください。
Q. 試験結果はどのような形式で受け取れますか？
試験成績書（レポート）として発行いたします。必要に応じてPDFまたは紙での納品が可能です。
Q. 依頼方法を教えてください。
当サイトのお問い合わせフォームまたはお電話（平日9:00〜17:00）にてご相談ください。サンプル送付先や詳細な試験条件についてご案内いたします。
Q. HAST試験とPCT（プレッシャークッカー試験）はどう違いますか？
PCTは121℃・100%RH前後の飽和条件が一般的なのに対し、HAST試験は130℃前後でも実施可能で、より短時間かつ非飽和・バイアス印加（BHAST）にも対応できる点が異なります。対象部品や評価目的に応じて使い分けます。
Q. BHAST（バイアスHAST）とは何ですか？
試験中にサンプルへ通電・電圧印加を行うHAST試験です。電気化学的マイグレーション（イオンマイグレーション）による絶縁劣化やショート不良を、通電なしの試験より高精度に再現・評価できます。